LAYERCHECK 750
zerstörungsfreie Schichtdickenmessung auf Stahl (F) und Nichteisenmetallen (N) bis 3000 µm bzw. 2000 µm
Schichtdickenmessgerät digital

LAYERCHECK 750 USB-FN

Bestellnummer: 03050131
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Schichtdickenmessgerät digital

LAYERCHECK 750 USB-FN

Das kleine und robuste Schichtdickenmessgerät LAYERCHECK 750 USB wird für die schnelle und genaue, zerstörungsfreie Schichtdickenmessung auf metallischen Untergründen eingesetzt. Typische Einsatzbereiche sind z.B. industrieller Korrosionsschutz, Gutachter-, Galvanisier- und Lackierbetriebe, chemische Industrie, Automobil-, Schiffs-, Flugzeug-, Apparate- und Maschinenbau. Die batteriebetriebenen Schichtdickenmessgeräte arbeiten je nach Gerätetyp und Sonde nach dem magnetisch-induktiven Verfahren (F) oder zusätzlich auch (Kombinationssonde – FN) nach dem Wirbelstrom-Verfahren.

Normen

  1. DIN
  2. ISO
  3. ASTM
  4. BS

Technische Daten

Schichtdicke

bis 3000 µm

DT /NDT

NDT

Wet / Dry

trocken

Substrat

F / NE

Portabel / Stationär

Portabel

Abmessungen

ca. 122 mm x 70 mm x 32 mm (L x B x T)

Sonde

Ø 15 mm x 62 mm

Gewicht

ca. 225 g

Messbereiche: Modell 750 USB-F

0 - 3000 µm

Messbereiche: Modell 750 USB-FN

0 - 2000 µm (F) // 0 - 2000 µm (N)

Messunsicherheit

± (2% + 2 µm) vom Messwert

Kleinster Krümmungsradius des Messgegenstandes

konvex: 5 mm // konkav: 25 mm

Kleinste Messfläche

ø 20 mm

Kleinste Dicke des Grundwerkstoffs

0,5 mm (F) // 50 µm (N)

Display

4-stellig, Ziffernhöhe 11 mm

Maßeinheiten

µm – mils umschaltbar

Kalibrierung

Standard-, 1-Punkt-, 2-Punkt-Kalibrierung

Statistikberechnung

aus max. 9999 Messwerten

Speicherung

Mittelwert, Standardabweichung, Anzahl der Messwerte, größter/kleinster Messwert

Schnittstelle

USB

Stromversorgung

3 Micro-AAA-Batterien (>10000 Messungen)

Umgebungstemperatur

Gerät: 0 - 50 °C // Sonde: -10 °C - 70 °C